Montanuniversität Leoben
Leoben | Website
Kurzbeschreibung
Ionenmikroskopsäule als Zusatz zum Zeiss AURIGA Rasterelektronenmikroskop, kann zur lokalen Materialbearbeitung mittels fokussierter Ga Ionen auf der Nanometerskala eingesetzt werden, für die lokale 3D Mikrostrukturanalyse, TEM Probenpräparation, oder Mikro- und Nanoprobenfertigung.
Ansprechperson
Daniel Kiener
Research Services
Herstellung von miniaturisierten mechanischen Proben
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Ionenmikroskopsäule als Zusatz zum Zeiss AURIGA Rasterelektronenmikroskop, kann zur lokalen Materialbearbeitung auf der Nanometerskala eingesetzt werden, für die lokale 3D Mikrostrukturanalyse, TEM Probenpräparation, oder Mikro- und Nanoprobenfertigung.
Das Gerät wird für die Grundlagenforschung am Institut verwendet. Wenn freie Kapazitäten verfügbar sind, werden auch Auftragsarbeiten durchgeführt.