Feldemissions-Elektronenmikroskop TECNAI F20

Technische Universität Wien (TU Wien)

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Großgerät

Kurzbeschreibung

USTEM ist die zentrale Einrichtung der TU Wien für analytische und hochauflösende elektronenmikroskopische Untersuchungen. Die Schwerpunkte liegen in Transmissionselktronenmikroskopie (TEM), Rasterelektronenmikroskopie (SEM) und Focused Ion Beam (FIB).
Das "TECNAI F20 FEGTEM" ist ein analytisches Feldemissions-Transmissions-elektronenmikroskop mit Röntgendetektor, Rastertransmissionsmodus (STEM), Gatan Imagefilter GIF Tridiem, CCD Kameras, HAADF-STEM Detektor und optionalem Bi-Prisma.
Das TEM erlaubt Betriebsspannung von 60 kV - 200 kV.
Zusätze sind diverse Probenhalter, u.a. Heizhalter (bis 1000 °C) und Tieftemperatur-Probenhalter (bis -186 °C) sowie ein Gatan Vulcan Cathodoluminescence Probenhalter und Spektrometer

Ansprechperson

Privatdoz. Dipl.-Ing. Dr.techn. Michael Stöger-Pollach

Research Services

Hochauflösungselektronenmikroskopie, Dichroismus Messungen
Halbleiteruntersuchungen mit EELS (VEELS), Chemische Mikroanalyse mit hoher Ortsauflösung
Strukturanalyse mittels Elektronenbeugung

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

Hochauflösungselektronenmikroskopie, Dichroismus Messungen
Halbleiteruntersuchungen mit EELS (VEELS)
Struktur- und Phasenanalyse mittels Elektronenbeugung
Chem. Mikroanalyse mit hoher Ortsauflösung mittels EDX und EELS,
Z-Kontrast Imaging im nm-Bereich mittels HAADF,

Privatdoz. Dipl.-Ing. Dr.techn. Michael Stöger-Pollach
USTEM
01-58801-45204
stoeger@ustem.tuwien.ac.at
http://www.ustem.tuwien.ac.at
Benutzung durch Operator oder selbständig nach Einschulung für Forschungsprojekte oder im Rahmen der Eigenforschung der Institute
AC2T research GmbH - Österreichisches Kompetenzzentrum für Tribologie
Austrian Institute Of Technology
CERN
crystalsol GmbH
Carinthian Tech Research AG
ON Semiconductor (Formerly Fairchild)
Fraunhofer Institut für Solare Energiesysteme Freiberg
Habich GmbH
LKR Leichtmetallkompetenzzentrum Ranshofen GmbH (AIT-Tochter)
STRONG Ges.m.b.H.
Montanuniverstität Leoben
Universität Salzburg
Universität Innsbruck
Universität Wien
Universität Bielefeld
Vienna Biocenter Core Facilities GmbH (VBCF)
Ni-perovskite interaction and its structural and catalytic consequences in methane steam reforming and methanation reactions. (2016). Thalinger, R., Gocyla, M., Heggen, M., Dunin-Borkowski, R., Grünbacher, M., Stöger-Pollach, M., . . . Penner, S. Journal of Catalysis, 337, 26-35. doi:10.1016/j.jcat.2016.01.020

A combined TEM/STEM and micromagnetic study of the anisotropic nature of grain boundaries and coercivity in Nd-Fe-B magnets. (2017). Zickler, G. A., Fidler, J., Bernardi, J., Schrefl, T., & Asali, A. Advances in Materials Science and Engineering, 2017 doi:10.1155/2017/6412042

Sn-ag-cu nanosolders: Solder joints integrity and strength. (2016). Roshanghias, A., Khatibi, G., Yakymovych, A., Bernardi, J., & Ipser, H. Journal of Electronic Materials, 45(8), 4390-4399. doi:10.1007/s11664-016-4584-4

Microwave-assisted solution-liquid-solid growth of Ge1-xSnx nanowires with high tin content. (2015). Barth, S., Seifner, M. S., & Bernardi, J. Chemical Communications, 51(61), 12282-12285. doi:10.1039/c5cc03639a

Critical current anisotropy of GdBCO tapes grown on ISD–MgO buffered substrate. (2015). M Lao, J Bernardi, M Bauer and M Eisterer. Supercond. Sci. Technol. 28 124002. (8pp) doi:10.1088/0953-2048/28/12/124002

Carbon tolerance of Ni–Cu and Ni–Cu/YSZ sub-μm sized SOFC thin film model systems. (2017). Götsch, T., Schachinger, T., Stöger-Pollach, M., Kaindl, R., & Penner, S. Applied Surface Science, 402, 1-11. doi:10.1016/j.apsusc.2017.01.076

Microstructure and piezoelectric response of YxAl1-xN thin films. (2015). Mayrhofer, P. M., Riedl, H., Euchner, H., Stöger-Pollach, M., Mayrhofer, P. H., Bittner, A., & Schmid, U. Acta Materialia, 100, 81-89. doi:10.1016/j.actamat.2015.08.019

Sub-nanometer free electrons with topological charge. (2012). Schattschneider, P., Stöger-Pollach, M., Löffler, S., Steiger-Thirsfeld, A., Hell, J., & Verbeeck, J. Ultramicroscopy, 115, 21-25. doi:10.1016/j.ultramic.2012.01.010

Peculiar rotation of electron vortex beams. (2015). Schachinger, T., Löffler, S., Stöger-Pollach, M., & Schattschneider, P. Ultramicroscopy, 158, 17-25. doi:10.1016/j.ultramic.2015.06.004