Messplatz Mikroelektronik Charakterisierung

FH Wiener Neustadt

Wiener Neustadt | Website

Sonstige Forschungsinfrastruktur

Kurzbeschreibung

Wafer Probe Station mit DC-Probes sowie Single- & Differential HF-Probes bis 20GHz
Wafer Inspections -Mikroscope für Bright- & Darkfield, Obj. 2.5x/5x/10x/20x/50x/100x/WhiteLight Interferometry
Mixed Signal Oszilloskop 4Ch DSO, 2.5GHz analog, 40GS/s, 36Ch digital
Spectrum & Vector Network Analyzer bis 3GHz
Industrial Parameter Analyzer - Automatic wafer level component characterization

Ansprechperson

DI Dr. Alexander Nemecek

Research Services

Mikroelektronik Charakterisierung

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

MEMS- und Mikroelektronik Charakterisierung auf Wafer-Level

DI Dr. Alexander Nemecek
Fachbereich Micro- & Nanosystems
+43262289084214
alexander.nemecek@fhwn.ac.at
http://www.fhwn.ac.at
nach Rücksprache