Messplatz Oberflächen

FH Wiener Neustadt

Wiener Neustadt | Website

Sonstige Forschungsinfrastruktur

Kurzbeschreibung

Stereo-Zoom Mikroskop
Rasterkraft- & Rastertunnel-Mikroskop AFM- & STM plus Controller, SW, Schwingungstisch
3D-Imaging Microscopy - 3D Surface Analysis
Schichtdickenmessgerät - Dünnfilm-Metrologie, Spektroskopisches Reflektometer
3-Kanal Spektrometer - UV, VIS, NIR

Ansprechperson

DI Dr. Alexander Nemecek

Research Services

Charakterisierung von Oberflächen

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

Charakterisierung von Oberflächen

DI Dr. Alexander Nemecek
Fachbereich Micro- & Nanosystems
+43262289084214
alexander.nemecek@fhwn.ac.at
http://www.fhwn.ac.at
nach Rücksprache