Rasterkraftmikroskop ASYLUM MFP 3D

Montanuniversität Leoben

Leoben | Website

Großgerät

Kurzbeschreibung

Das Rasterkraftmikroskop erlaubt die qualitative und quantitative Analyse der Topografie und Morphologie von Werkstoffen im Nanometerbereich. Das Rasterkraftmikroskop verfügt zusätzlich über eine Heating Stage (RT bis 300°C) zur Durchführung temperaturabhängiger Messungen.

Ansprechperson

Dr. Katharina Resch-Fauster

Research Services

Wissenschaftliche Forschungsprojekte und Grundlagenforschung zur topografischen und morphologischen Oberflächenanalyse im Nanometerbereich.

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

Topografische und morphologische Analyse von Kunststoffen.

Dr. Katharina Resch-Fauster
Lehrstuhl für Werkstoffkunde und Prüfung der Kunststoffe, Department Kunststofftechnik
03842 402 2105
katharina.resch-fauster@unileoben.ac.at
http://www.kunststofftechnik.at/
Nach Vereinbarung mit der zuständigen Kontaktperson.