Rasterelektronenmikroskop mit EDX-Mikroanalyseeinheit

Technische Universität Wien (TU Wien)

Wien | Website

Großgerät

Kurzbeschreibung

Klassisches Hockvakuum-Rasterelektronenmikroskop mit Wolfram-Kathode, Sekundärelektronendetektor (SE) für die topographische Oberflächenwiedergabe und Rückstreuelektronendetektor (BSE) zur Darstellung des Materialkontrastes, energiedispersives Mikroanalysesystem zur qualitativen und quantitativen Ermittlung der chemischen Elemente ab Ordnungszahl 5 (Bor) des Periodensystems

Ansprechperson

Ing. Christian Zaruba

Research Services

Hoch ortsaufgelöste topographische Untersuchung von Oberflächen (zB Buchflächen), Gefügeuntersuchung bei hohen Vergrößerungen, chemische Werkstoffanalyse

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

Hoch ortsaufgelöste topographische Untersuchung von Oberflächen (zB Buchflächen), Gefügeuntersuchung bei hohen Vergrößerungen, chemische Werkstoffanalyse, Schadensanalytik an metallischen Bauteilen

Ing. Christian Zaruba
Inst.f.Werkstoffwissenschaft u -technol.
58801-30881
christian.zaruba@tuwien.ac.at
Erbringung von Dienstleistungen nach Rücksprache mit der Kontaktperson