
Totalreflexions-Röntgenspektrometer (TXRF)
Technische Universität Wien (TU Wien)
TXRF Röntgenspektrometer zur Bestimmung von Spurenelementen
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TXRF Röntgenspektrometer zur Bestimmung von Spurenelementen
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Das "STEMPack f. TECNAI F20 FEGTEM" ist eine Hard- und Software-Erweiterung zur gemeinsamen und gleichzeitigen...
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EDX-Spektrometer für das Transmissionselektronenmikroskop TECNAI G2 20 mit TEAM Enhanced Software Suite. Detektorfenster: Si3N4. Detektorgröße:...
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Mikropositioniersysteme bestehend aus mehreren Einzelpositionierungseinheiten mit Servomotoren und Piezotranslatoren.
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Argon-Ionenmühlen zum Herstellen von elektronentransparenten Präparaten für die Transmissionselektronenmikroskopie. Die Probenoberfläche wird durch beschleunigte Ar-Ionen...
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Gatan Rio16 4k x 4k CMOS Kamera zur Aufnahme von elektronenmikroskopischen Bildern. Die CMOS Kamera...
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Das Gatan Vulcan CL-System beinhaltet einen Kathodolumineszenz Probenhalter mit zwei elliptischen Spiegeln und ein optisches...
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Das Raumsimulationslabor (simlab) entwickelt digitale Planungsumgebungen (Visual Analytics) als visuelles Unterstützungswerkzeug für den Einsatz bei...
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1,5 kW Faserlaser mit 0,1 mm Lichtleiter und Bearbeitungskopf
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Der VSC 4 erweitert die im Vienna Scientific Cluster verfügbaren Ressourcen; der VSC-4 besteht aus...
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Der VSC 3 erweitert die im Vienna Scientific Cluster verfügbaren Ressourcen; der VSC-3 besteht aus...
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UHV Apparatur mit PM-IRAS/XPS Spektroskopie zur Untersuchung von Modellkatalysatoren
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Hardware/Software-Testbed für 4G/5G und IEEE 802.11p zur Erprobung von verlässlicher Vernetzung von Verkehrsteilnehmern untereinander und...
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30-Femtosekunden-Ultrakurzpulslasersystem mit Handhabungssystem
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UHV Apparatur mit STM und XPS zur Herstellung von Modelkatalysatoren und deren Untersuchung Teilfinanzierung durch...
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Am Institut für angewandte Synthesechemie der TU Wien, stehen für die Analyse für kleine bis...
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Massenspektrometer für Proteomik und Metabolomik
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Sichtbarmachung von magnetischen und nicht-magnetischen Nanostrukturen bei tiefen Temperaturen und hohen Magnetfeldern
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Simultane Thermische Analyse (STA), Temperaturbereich -150°C bis 1000°C, Autosampler. Charakterisierung von neuen Materialien, Polymeren, Blends...
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Eigenspannungsmessung von Schichten mit Hilfe der Biegebalkenmethode. Bis zu 900 °C in Schutzgas.