Precision Ion Polishing System (PIPS) - GAAN-PIPS II Plus

Universität Salzburg

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Kurzbeschreibung

Die Ionendünnungsanlage (Precision Ion Polishing System (PIPS II)) wird in der Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie angewandt.
Mit der PIPS II von GATAN ist es möglich konventionelle und Querschnittsproben mittels Ar-Ionen mit einer Beschleunigungsspannung von 0.1 kV bis 8 kV auf eine Dicke von bis zu 10 nm zu dünnen.
Ein eingebautes hochauflösendes digitales Lichtmikroskop ermöglicht die zielgenaue Präparation. Die Probe kann mittels flüssigem Stickstoff gekühlt werden, um die Erwärmung der Probe während des Dünnungsprozesses zu verringern. Des Weiteren können FIB-Proben (Focused Ion Beam) ebenfalls auf die gewünschte Dicke nachgedünnt werden.

Ansprechperson

Prof. Dr. Oliver Diwald

Research Services

Zielpräparation von verschiedensten Proben für die Transmissionselektronenmikroskopie

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

Zielpräparation von verschiedensten Proben für die Transmissionselektronenmikroskopie
• konventionelle Proben (Metalle, Keramiken, Halbleiter, Polymere)
• Querschnittsproben
• Nachdünnung von FIB Proben
• Reinigung von Artefakten wie amorphe Bereiche und Oxid-Schichten

Zuordnung zur Core Facility

Elektronenmikroskopie