Universität Wien
Wien
Großgerät
Kurzbeschreibung
Weitwinkelröntgendiffraktometrie, Bestimmung der Gitterkonstante, Phasenanalyse, Einkristallorientierung, Rietveld-Analysen, innere Spannungen 1 und 2 Art mit Ortsauflösung 50 µ. Gerät ist ausgestattet mit Flächendetektor Bruker GADDS und Polykapillare.
Ansprechperson
Erhard Schafler
Research Services
Derzeit werden keine Research Services für diese Forschungsinfrastruktur angeboten. Bei Interesse an einer Kooperation setzen Sie sich bitte mit Erhard Schafler (erhard.schafler@univie.ac.at) in Verbindung.
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Texturanalyse, Phasenanalyse, Einkristallorientierung, Rietveld-Analysen, innere Spannungen 1 und 2 Art mit bis zu 50 µ Ortsauflösung.
Erhard Schafler
Physik Nanostrukturierter Materialien
T: +43-1-4277-514 45
erhard.schafler@univie.ac.at
Physik Nanostrukturierter Materialien
T: +43-1-4277-514 45
erhard.schafler@univie.ac.at
Nutzungsbedingungen nach Vereinbarung. Bei Interesse an einer Kooperation setzen Sie sich bitte mit Erhard Schafler (erhard.schafler@univie.ac.at) in Verbindung.
Inst.Physikal.Chemie Univ.Wien, Erich Schmid Inst.Materials Sci. ÖAW Leoben, Inst.Werkstoffkunde & Schweisstechnik TU Graz, Inst.f.Strukturphysik Dresden, Inst.Metallurgy & Mater.Sci. Polish Acad.Sci. Krakow Poland, B.Verkin Inst.Low Temp.Physics Ukr.Acad.Sci Kharkov Ukraine, Inst.Physics Adv.Mater. Ufa State Aviation TU Ufa, Borealis AG Wien-Linz