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Large equipment

Rasterelektronenmikroskop mit EDX-Mikroanalyseeinheit

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Vienna University of Technology

Wien | Website


Short Description

Klassisches Hockvakuum-Rasterelektronenmikroskop mit Wolfram-Kathode, Sekundärelektronendetektor (SE) für die topographische Oberflächenwiedergabe und Rückstreuelektronendetektor (BSE) zur Darstellung des Materialkontrastes, energiedispersives Mikroanalysesystem zur qualitativen und quantitativen Ermittlung der chemischen Elemente ab Ordnungszahl 5 (Bor) des Periodensystems

Contact Person

Ing. Christian Zaruba

Research Services

Hoch ortsaufgelöste topographische Untersuchung von Oberflächen (zB Buchflächen), Gefügeuntersuchung bei hohen Vergrößerungen, chemische Werkstoffanalyse

Methods & Expertise for Research Infrastructure

Hoch ortsaufgelöste topographische Untersuchung von Oberflächen (zB Buchflächen), Gefügeuntersuchung bei hohen Vergrößerungen, chemische Werkstoffanalyse, Schadensanalytik an metallischen Bauteilen

Terms of Use

Erbringung von Dienstleistungen nach Rücksprache mit der Kontaktperson

Contact

Ing. Christian Zaruba
Inst.f.Werkstoffwissenschaft u -technol.
58801-30881
christian.zaruba@tuwien.ac.at

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