Kurzbeschreibung
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie-System (XPS):
Das XPS am ZONA (Nexsa G2 von Thermo Fisher) erlaubt oberflächenanalytische Untersuchungen an festen Probenoberflächen im Hinblick auf Elementzusammensetzung und Art der präsenten chemischen Verbindungen. Die Informationstiefe beträgt je nach Probenmaterial 5-10 nm. Die laterale Auflösung beträgt höchstens ca. 10-50 µm (Standard 200-400 µm). Winkelaufgelöste Messungen erlauben zusätzliche Information über die Tiefenverteilung von Elementen und Verbindungen in der obersten Schicht. Weitere Tiefenprofilierung ist mit Argonionen-Cluster-Sputtern möglich, ohne die Chemie von organischen Verbindungen zu zerstören. Ein inkludiertes Ramanspektroskopie-System erlaubt Messungen am selben Ort wie XPS. Ein Vakuumtransferhalter steht ebenfalls zur Verfügung, um Proben ohne Exposition mit der Umgebungsluft einzuschleusen.
Ansprechperson
Assoz.-Prof. DI Dr. David Stifter
Research Services
Grundlagenforschungsprojekte, öffentlich geförderte Firmenprojekte, Industrieprojekte und Forschungsdienstleistungen
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Expertise in der Untersuchung der Oberflächenzusammensetzung von Verbundmaterialien und -Polymeren, Metallen und deren Oxide als auch Halbleitern und Isolatoren. Spezielle Expertise in der Analytik von "unkooperativen" Oberflächen (z.B. komplexe heterogene Zusammensetzung der Oberfläche, Proben industrieller Herkunft, Pulver,...). Tiefenprofilierung mittels Sputtern und Winkel-aufgelöstem Messen. Festigung und Vertiefung der interdisziplinären Zusammenarbeit mit dem Expertenteam des Zentrums für Oberflächen- und Nanoanalytik.
Zuordnung zur Forschungsinfrastruktur
Kompetenzzentrum Holz GmbH
Fronius International GmbH
CEST Kompetenzzentrum für elektrochemische Oberflächentechnologie GmbH