Austrian Centre for Electron Microscopy and Nanoanalysis

Technische Universität Graz (TU Graz)

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Kurzbeschreibung

Das Institut für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik (FELMI) konzentriert seine Forschungs- und Entwicklungsaktivitäten auf die mikroskopische Materialcharakterisierung und die Anwendung mikroskopischer Untersuchungsmethoden auf aktuelle wissenschaftliche und technische Problemstellungen. Schwerpunkte dieser Arbeiten liegen in der Materialmikroskopie mit Elektronen, Ionen und Licht inklusive der Methoden der Mikro- und Nanoanalytik.
Das Institut verfügt über umfangreiches analytisches und materialspezifisches Know-how auf dem Sektor der Funktionsmaterialien, Biomaterialien, Leichtmetalle und der Nanofabrikation.
In Kooperation mit dem Zentrum für Elektronenmikroskopie Graz betreibt das Institut das "Austrian Scanning Transmission Electron Microscope" (ASTEM), mit dem Materialstrukturen mit atomarer Auflösung erforscht werden können.

Ansprechperson

Univ.-Prof. Gerald Kothleitner

Research Services

Kooperative Forschung mit Universitätsinstituten, außeruniversitäre Forschung und Industrie mit einem Schwerpunkt auf KMUs.
1. Oberflächen- und Mikroanalysen mittels Rasterelektronenmikroskopie, Röntgenspektrometrie
2. Chemical Imaging mittels FT-Infrarot- und Raman-Mikroskopie
3. Entwicklung von funktionellen Nanostrukturen (3D-Nanofabrikation) mit der Focused-Ion Beam Methode (FIB)
4. Schadensfallanalytik von metallischen Werkstoffen, elektronischen Bauelementen, Sensoren, Leichtmetallen und Verbundwerkstoffen
5. Nanoanalytik mittels hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) mit EELS und EDX, HAADF-Abbildung und Tomographie bis zur atomaren Auflösung
für Materialforschung, Halbleiterbauelemente, Sensoren und Nanoteilchen
6. Mikroskopische Kristallstrukturanalyse mittels Elektronenbeugung im REM und TEM

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

1. Mikroanalyse von Materialoberflächen und Materialquerschnitten, Schadensfallanalytik:
Rasterelektronenmikroskopie mit Röntgenspektrometrie (EDX und WDX) und Elektronenbeugung (EBSD)
In-situ Rasterelektronenmikroskopie (Environmental SEM) für mikroskopische in-situ Charakterisierung von Oberflächen und der inneren Struktur von Kunststoffen, Legierungen, Biomaterialien, Halbleiterbauelemente, Keramiken, Umweltproben und pharmazeutischen Proben.

2. Rastersondenmikroskopie, vor allem Rasterkraftmikroskopie für die Untersuchung der Topographie von Materialoberflächen und für die dynamische Untersuchungen von Materialoberflächen und biologischen Systemen in flüssiger Umgebung.

3. Nanoanalytik für die Untersuchung des inneren Aufbaus von Werkstoffen, Bauelementen und Biomaterialien
Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie (TEM, HREM und STEM), Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS), Röntgenspektrometrie (EDX) und Elektronentomographie, Nanoanalyse bis zur atomaren Auflösung.

4. Focused-Ion-Beam Technologie (FIB) mit einem Dual-beam FIB Mikroskop: Aufbau von neuartigen 3D-Nanostrukturen (3D Nanofabrikation) für die Entwicklung funktioneller Nanostrukturen (Sensoren, Bauelemente).

5. Chemical Imaging von organischen, biologischen und pharmazeutischen Materialien mit FT-Infrarot-Spektromikroskopie und konfokalem Raman-Mikroskop.

Equipment

• Raste­r­e­lek­tro­nen­mi­kroskop Zeiss Sigma 300 VP (mit WITec RISE - Raman System und Oxford XMaxN - EDX Detektor)
• Mikroskop; BASIC UNIT SIGMA 300VP
• K2-Kamera