Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

AIT Austrian Institute of Technology GmbH

Braunau am Inn - Ranshofen | Website

Großgerät

Kurzbeschreibung

Mit dem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop kann die Mikrostruktur von Leichtmetallen bis in den Nano-Bereich analysiert werden, weiters ist die Untersuchung der lokalen chemischen Zusammensetzung, Kristallstruktur und -orientierung von Grundmaterial und intermetallischen Phasen (EDX, EBSD) möglich.

Ansprechperson

Dr. Johannes Österreicher

Research Services

• Metallographische Untersuchungen
• Schadensanalyse
• Phasenidentifikation
• Dispersoidquantifizierung
• Texturanalyse mittels EBSD

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

Technische Daten

Hersteller: Tescan

Schottky-Feldemissions-Elektronenquelle - höchste Auflösung

Detektoren:
• 4-Quadranten-Halbleiter-Rückstreuelektronendetekor
• Everhart-Thornley-Detektor
• InLens-Sekundärelektronendetektor
• EDAX Octane Elect EDX-Detektor (energiedispersive Röntgenspektroskopie, 70 mm² SDD)

Hikari Super EBSD-Kamera: Elektronenrückstreubeugung

Dr. Johannes Österreicher
Center for Low-Emission Transport
+43 50550 6937
johannes.oesterreicher@ait.ac.at
Die Nutzung ist jeweils zu vereinbaren.