Hysitron SEM Picoindenter 85 (PI 85)

Technische Universität Wien (TU Wien)

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Großgerät

Kurzbeschreibung

Mittels des PI 85 können nanomechanische Tests mit einem Rasterelektronenmikroskop durchgeführt werden, wodurch eine sehr präzise Positionierung der Spitze auf der gewünschten Probenstelle möglich ist. Die auftretende Deformation kann genau beobachtet und abgebildet werden.
Der gesamte Test kann auch per Video aufgenommen werden, so dass eine Korrelation zwischen Testfortschritt und Deformation möglich ist.
Vorhandene Spitzen:
-Berkovich
-Flat Punch
Spezifikationen des Transducers:
max. Belastung von 30 mN, Belastungsauflösung von < 3 nN, max. Eindringtiefe von 15 µm, Eindringtiefeauflösung von 0.02 nm

Ansprechperson

Dipl.-Ing. Luis Zelaya

Research Services

Angehörige der TU Wien können ihre nanomechanischen Untersuchungen auf besonders kleine Kraftgrößen und um hochauflösende Imaging Modalitäten erweitern.

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

Durch den PI85 können die nanomechanischen Untersuchungen am IMWS und der TU Wien im allgemeinen um zwei wichtige Aspekte erweitert werden:
1. Aufbringung noch kleinerer Lasten
2. elektronenmikroskopische Auflösungen der Instrument-Material-Interaktion, sowohl statisch als auch dynamisch

Dipl.-Ing. Luis Zelaya
+43 1 58801 20256
luis.zelaya.lainez@tuwien.ac.at
PI 85 muss mit dem Elektronenmikroskop FEI Quanta 200 FEG der Universitären Service-Einrichtung für Transmissions-Elektronenmikroskopie (USTEM) genutzt werden.