Kurzbeschreibung
Mittels des PI 85 können nanomechanische Tests mit einem Rasterelektronenmikroskop durchgeführt werden, wodurch eine sehr präzise Positionierung der Spitze auf der gewünschten Probenstelle möglich ist. Die auftretende Deformation kann genau beobachtet und abgebildet werden. Der gesamte Test kann auch per Video aufgenommen werden, so dass eine Korrelation zwischen Testfortschritt und Deformation möglich ist.
Vorhandene Spitzen:
-Berkovich
-Flat Punch
Spezifikationen des Transducers:
max. Belastung von 30 mN, Belastungsauflösung von < 3 nN, max. Eindringtiefe von 15 µm, Eindringtiefeauflösung von 0.02 nm
Ansprechperson
Dr. Luis Zelaya
Research Services
Angehörige der TU Wien können ihre nanomechanischen Untersuchungen auf besonders kleine Kraftgrößen und um hochauflösende Imaging Modalitäten erweitern.
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Durch den PI85 können die nanomechanischen Untersuchungen am IMWS und der TU Wien im allgemeinen um zwei wichtige Aspekte erweitert werden:
1. Aufbringung noch kleinerer Lasten
2. elektronenmikroskopische Auflösungen der Instrument-Material-Interaktion, sowohl statisch als auch dynamisch