Kurzbeschreibung
Hochauflösendes, hochsensitives Massenspektrometer zur Element- und Isotopenanalyse (bis zu 7 Massen gleichzeitig, bildgebendes Verfahren) von festen, ultra-hochvakuum kompatiblen Proben mit einer lateralen Auflösung von bis zu 35-50 nm. https://en.wikipedia.org/wiki/Nanoscale_secondary_ion_mass_spectrometry; http://www.cameca.com/instruments-for-research/nanosims.aspx
Ansprechperson
Prof. Dr. Dr. h.c. Michael Wagner / Arno Schintlmeister
Research Services
Im breiten Spektrum der topochemischen Analysemethoden wird der Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) vor allem hinsichtlich der erzielbaren Ortsauflösung und Sensitivität ein großes Potential zugeschrieben. 2010 wurde an der Großgeräteeinrichtung für Isotopenforschung der Universität Wien ein hochentwickeltes, dynamisches SIMS - Gerät (‘NanoSIMS’) installiert, welches speziell für die (Spuren)element- und hochpräzise Isotopenanalytik mit höchster Ortsauflösung ausgelegt ist. Die laterale Auflösung ist durch den Durchmesser des Primärionenstrahls bestimmt, welcher für O- bzw. Cs+ Ionen bis zu 200 nm bzw. 35-50 nm verfeinert werden kann. Eine hocheffiziente Ionenextraktion und die Formung eines rechteckigen Strahlprofils ermöglichen die Separation der Sekundärionen mit höchster Massenauflösung bei gleichzeitig hoher Transmission. Das doppelfokussierende Sektorfeld - Massenspektrometer ist mit einem Multikollektor ausgestattet, mit dem sich bis zu 7 verschiedenen Sekundärionenspezies parallel detektieren lassen.
Forschungsschwerpunkte:
• Bestimmung von stabilen Isotopen von H, O, C, N, S, Fe in Biomasse mit subzellulärer Ortsauflösung
• Parallelbestimmung von metabolischer Aktivität und phylogenetischer Identität von mikrobiellen Spezies in medizinischen Proben und Umweltproben (in Kombination mit Fluoreszenz-in-situ-Hybridisierung)
• Bestimmung der Wirkstoffverteilung von metallbasierenden Chemotherapeutika in menschlichen Krebszellen
Weitere Anwendungsfelder:
• Materialwissenschaften, Geologie
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
High sensitivity elemental and isotope analysis at nanometer-scale spatial resolution
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