Rasterelektronenmikroskop FEI QUANTA 200 mit Oxford EDX-Detektor

Montanuniversität Leoben

Leoben | Website

Großgerät

Kurzbeschreibung

Rasterelektronenmikroskop (Wolframkathode) mit Rückstreuelektronen-, Sekundärelektronen- und EDX-Dektor für manuelle und automatisierte Analysen

Ansprechperson

Ao.Univ.Prof. Christian Bernhard

Research Services

REM/EDX-Analysen für Einschlussanalytik (manuell und automatisiert) und Untersuchung von Schadensfällen, weitere Leistungen auf Anfrage

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

Einschlussanalytik: Untersuchung der Einschlusslandschaft in Halbzeug und Produkten oder in prozessbegleitenden Proben (Veränderung der Einschlusslandschaft über den Prozess) hinsichtlich Verteilung, Anzahl, Größe, Gehalt, Morphologie und Chemie; Analyse manuell oder mittels automatisierter Partikelanalyse

Schadensanalytik: Untersuchung von Bruchflächen und anderen Schadensfällen

Reduktionsmetallurgie: Untersuchung von Erzen und Pellets

Ao.Univ.Prof. Christian Bernhard
Lehrstuhl für Eisen- und Stahlmetallurgie
03842-402-2200
Christian.Bernhard@unileoben.ac.at
https://metallurgy.at/en/04_sem-fei-quanta-200mk2/
Bitte um Kontaktaufnahme mit Prof. Christian Bernhard!