Rasterelektronenmikroskop, PHILIPS XL30, ESEM

Universität Wien

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Open for Collaboration

Kurzbeschreibung

Im Niedrig-Vakuum Bereich einsetzbares Rasterelektronenmikroskop.
Detektoren: Sekundär- und Rückstreu-Elektronen-Detektor für Hoch-Vakuum Bereich, Large Field- und Gaseous Secondary Electron Detector für Niedrig-Vakuum Bereich, ESEM Modus.

Ansprechperson

Katy Schmidt

Research Services

Oberflächen Untersuchung von biologischem Material.
Environmental Scanning EM Modus.
Nutzung entsprechend der Facility Richtlinien.

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

Durch verschiedene Techniken der Probenvorbereitung und die Verwendung der unterschiedlichen Detektoren können sowohl Aussagen über die Oberflächenstruktur als auch die Probenzusammensetzung gemacht werden. Zusätzlich kann noch frisches unbehandeltes Probenmaterial untersucht werden.

Zuordnung zur Forschungsinfrastruktur

Research Support Facilities Imaging Unit CIUS