Rasterkraftmikroskop JPK SENSE SPM

Universität Innsbruck

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Großgerät

Kurzbeschreibung

Kommerzielles Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Abbildung von Oberflächen mit hoher Genauigkeit. Messungen sind an Luft und in Lösungsmitteln möglich. Eine Modul zur Temperaturregelung ist vorhanden, ebenso der QI-Mode und der FastScan Mode von JPK. Anwendungen sind: Untersuchung des Einflusses mechanischer Kraft auf einzelne Moleküle, insbesondere mit Fokus auf Abrisskräfte und Dissoziationskinetiken ausgewählter chemischer Verbindungen anhand von Rasterkraftmikroskopie; Hochauflösende Bilder von z.B. Oberflächen und Bioproben.

Ansprechperson

Univ.-Prof. Martin Beyer

Research Services

- Einzelmolekülkraftspektroskopie
- Abbilden von Oberflächenstrukturen
- Quantitatives Imaging (Abbildung unter Berücksichtigung der Elastizität der Oberfläche mit dem QI-Mode des Geräts)

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

Das Rasterkraftmikroskop wird vorrangig für die Einzelmolekülkraftspektroskopie von kovalenten Bindungen eingesetzt. Dabei kommen die Methoden des Force-Ramp und Force-Clamp zum Einsatz. Im Rahmen von Kooperationen werden auch biologische Proben und Materialproben untersucht.

Univ.-Prof. Martin Beyer
Institut für Angewandte Physik und Ionenphysik
+43 512 507 52680
martin.beyer@uibk.ac.at
https://www.uibk.ac.at/ionen-angewandte-physik/chemphys/
Nach Absprache, entweder über Auftragsmessungen oder im Rahmen einer wissenschaftlichen Kooperation.