Kurzbeschreibung
Scanning Augerelektronenspektroskopie (SAES):
Das SAES System am ZONA (Jamp-9500F von JEOL) erlaubt oberflächenanalytische Untersuchungen an festen Probenoberflächen im Hinblick auf Elementzusammensetzung und (limitierte) chem. Information (Punktmessungen als auch Oberflächenmappings). Die Informationstiefe beträgt je nach Probenmaterial 5-10 nm. Die höchste laterale Auflösung beträgt 3 nm für die Elektronenmikroskopie bzw. 8 nm für die Augeranalytik. Tiefenprofilierung ist mit Argonionen-Sputtern möglich. Eine Brucheinrichtung ist im UHV-System vorhanden, um Oberflächen im Vakuum freilegen zu können.
Ansprechperson
Assoz.-Prof. DI Dr. David Stifter
Research Services
Grundlagenforschungsprojekte, öffentlich geförderte Firmenprojekte, Industrieprojekte und Forschungsdienstleistungen
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Expertise in der Untersuchung der Oberflächenzusammensetzung von Metallen und deren Oxide als auch Halbleitern, Nanoteilchen und Clustern sowie dünne Filme. Spezielle Expertise in der Analytik von "unkooperativen" Oberflächen (z.B. komplexe heterogene Zusammensetzung der Oberfläche, Proben industrieller Herkunft, ...). Tiefenprofilierung mittels Sputtern. Festigung und
Vertiefung der interdisziplinären Zusammenarbeit mit dem Expertenteam des Zentrums für Oberflächen- und Nanoanalytik.
Zuordnung zur Forschungsinfrastruktur
Robert Bosch AG
Fronius International GmbH