Kurzbeschreibung
Bei der Versaprobe III handelt es sich um ein Röntgenphotoelektronenspektrometer (XPS). Es verfügt über eine rasternde, monochromatische Röntgenquelle (Al Kα), die das Fokussieren des Röntgenstrahls auf Durchmesser von < 10 μm erlaubt. Durch die Aufnahme von röntgeninduzierten Sekundärelektronenbildern wird eine "Rasterelektronenmikroskop-artige" Bedienung möglich, was eine lokale Identifikation von möglichen Inhomogenitäten der Probenoberflächen anzeigt, welche in Folge chemisch analysiert werden können.
Die erstmalig in Österreich verbaute Argon Cluster Quelle erlaubt die schonende Befreiung anorganischer Materialien von organischer Kontamination, sowie die Erstellung von Tiefenprofilen von organischen Materialien (z.B. Polymeren) unter milden Bedingungen.
Die Probebühne in der Analysekammer kann geheizt oder gekühlt werden und erlaubt das Kontaktieren der Probe für in-situ Experimente. Der Transfer von einer Glovebox bzw. dem PHI 710 Auger Nanoprobe ist über eine Probentransferkammer unter Vakuum oder Inertgas Bedingungen möglich.
Die Versaprobe III konnte in 2022 aus FFG Mitteln zur Forschungs- & Entwicklungs-Infrastrukturförderung im Rahmen des ELSA Projektes in Zusammenarbeit mit dem Kompetenzzentrum für elektrochemische Oberflächentechnologie (CEST) angeschafft werden.
Ansprechperson
Annette Foelske
Research Services
Das Analytical Instrumentation Center (AIC) der Technischen Universität Wien bietet die Durchführung von Oberflächenanalysen und die Erstellung von Tiefenprofilen mittels Elektronenspektroskopie an. Der Service wird vorzugsweise für Angehörige der TU Wien angeboten. Im Rahmen von Kooperationen innerhalb von Forschungsprojekten werden auch Messungen/Auswertungen für Institutionen außerhalb der TU Wien angeboten. In beschränktem Umfang können auch Aufträge von Dritten angenommen werden.
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
• Oberflächenanalyse mittels Röntgenphotoelektronenspektrometer (XPS)
• lokale Identifikation von möglichen Inhomogenitäten der Probenoberflächen durch rasternde, monochromatische Röntgenquelle
• schonende Befreiung anorganischer Materialien von organischer Kontamination durch Argon Cluster Quelle
• Erstellung von Tiefenprofilen von organischen Materialien (z.B. Polymeren) unter milden Bedingungen durch Argon Cluster Quelle
• in-situ Experimente durch geheizte oder gekühlte Probenbühne in der Analysekammer
• Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy (REELS) möglich
CEST- Kompetenzzentrum für elektrochemische Oberflächentechnologie
TU Wien