Kurzbeschreibung
Laserscanningmikroskop
- Kombinierte Laserlicht- und Weißlichtmikroskopie
- Violetter Halbleiterlaser (408 nm Wellenlänge)
(mehr als 3 Millionen Messpunkte in jeder Ebene)
- 16 Bit PMT Farb-CCD-Bildsensor, Aufnahmeauflösung 3072 x 2304
Spezifikationen:
- Gesamtvergrößerung: bis 28.000-fach
- Objektive 10 -150x (Standard und Long Working Distance Objektive)
- XY-Bildzusammensetzungsmodul (Verfahrtisch 100 x 100 mm)
- max. Probenhöhe 128 mm
- Höhenauflösung: 0,5 nm
- Max. Probengewicht im Motorbetrieb: 5 kg
Funktionen:
- 3D Oberflächentopographie bis in den Submikrometerbereich
- kombinierte Messung von optischem Eindruck und Oberflächenstruktur
- Oberflächenrauheitsmessung (DIN EN ISO)
- Profil-, Geometrie- und Volumenmessungen
- Zähl- und Flächenmessung
- Erzeugung von CAD 3D-Daten (step, acs)
Ansprechperson
Alexander Diem
Research Services
Industrieforschung
- Analyse, Charakterisierung und Funktionalisierung von Oberflächen
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
In Absprache mit Interessenten/Kunden/Unternehmen