Kurzbeschreibung
Das Rasterkraftmikroskop erlaubt die qualitative und quantitative Analyse der Topografie und Morphologie von Werkstoffen im Nanometerbereich. Das Rasterkraftmikroskop verfügt zusätzlich über eine Heating Stage (RT bis 300°C) zur Durchführung temperaturabhängiger Messungen.
Ansprechperson
Dr. Katharina Resch-Fauster
Research Services
Wissenschaftliche Forschungsprojekte und Grundlagenforschung zur topografischen und morphologischen Oberflächenanalyse im Nanometerbereich.
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Topografische und morphologische Analyse von Kunststoffen.
Nach Vereinbarung mit der zuständigen Kontaktperson.