Kurzbeschreibung
Rasterelektronenmikroskop (Wolframkathode) mit Rückstreuelektronen-, Sekundärelektronen- und EDX-Dektor für manuelle und automatisierte Analysen
Ansprechperson
Bernd Lederhaas
Research Services
REM/EDX-Analysen für Einschlussanalytik (manuell und automatisiert) und Untersuchung von Schadensfällen, weitere Leistungen auf Anfrage
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Einschlussanalytik: Untersuchung der Einschlusslandschaft in Halbzeug und Produkten oder in prozessbegleitenden Proben (Veränderung der Einschlusslandschaft über den Prozess) hinsichtlich Verteilung, Anzahl, Größe, Gehalt, Morphologie und Chemie; Analyse manuell oder mittels automatisierter Partikelanalyse
Schadensanalytik: Untersuchung von Bruchflächen und anderen Schadensfällen
Reduktionsmetallurgie: Untersuchung von Erzen und Pellets
Bitte um Kontaktaufnahme mit Bernd Lederhaas!