Technische Universität Wien (TU Wien)
Wien
Großgerät
Kurzbeschreibung
Rauscharmer, geschirmter, halbautomatischer Waferprober, Temperaturbereich -20C bis 200C
Ansprechperson
Dr. Michael Watltl
Research Services
Zuverlässigkeitsmessungen mikroelektronischer Bauelemente
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Langzeitzuverlässigkeitsmessungen
Dr. Michael Watltl
Institut für Mikroelektronik
michael.waltl@tuwien.ac.at
https://www.iue.tuwien.ac.at/staff/waltl
Institut für Mikroelektronik
michael.waltl@tuwien.ac.at
https://www.iue.tuwien.ac.at/staff/waltl
Nach Vereinbarung