Fast-Scan Rasterkraftmikroskop

Technische Universität Wien (TU Wien)

Wien

Großgerät

Kurzbeschreibung

Rasterkraftmikroskop nach der Scanning Cantilever Methode.
Für Forschungsarbeiten zur Weiterentwicklung der Gerätetechnologie: Neue Messmoden, Verbesserung der Genauigkeit, Präzision, Messgeschwindigkeit und Handhabung.

- Geeignet für Messung größerer Proben (einige 100 mm Durchmesser).
- Scan Kopf für schnelle Kraftmikroskopiemessungen (Fasc Scan)
- Messmoden für nano-mechanische Charakterisierung (QNM)

Ansprechperson

Univ.Prof. Dipl.-Ing. Dr.sc.techn. Georg Schitter

Research Services

Instrumentierung und Beratung für Nanomesstechnik.
Bei Interesse bitte bei Georg Schitter (schitter@acin.tuwien.ac.at) melden.

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

Rasterkraftmikroskopie (AFM).
diverse Messmoden (contact, tapping, QNM, KFM, MFM)
wissenschaftliche Instrumentierung, Geräteentwicklung

Univ.Prof. Dipl.-Ing. Dr.sc.techn. Georg Schitter
Inst.f.Automat./Regelungstechnik
georg.schitter@tuwien.ac.at
Bei Interesse bitte bei Georg Schitter (schitter@acin.tuwien.ac.at) melden.
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