
kombiniertes Atomkraft- und Fluoreszenzmikroskop
Technische Universität Wien (TU Wien)
Das AFM (Tip-Scanning-AFM-System) ist kombiniert mit einem optischen Inversmikroskop. Es befindet sich auf einem aktiven...
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Das AFM (Tip-Scanning-AFM-System) ist kombiniert mit einem optischen Inversmikroskop. Es befindet sich auf einem aktiven...
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TXRF Röntgenspektrometer zur Bestimmung von Spurenelementen
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Das Raumsimulationslabor (simlab) entwickelt digitale Planungsumgebungen (Visual Analytics) als visuelles Unterstützungswerkzeug für den Einsatz bei...
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Das Gerät in Theta/Theta Geometrie wird im Wesentlichen zur kristallographischen Phasenbestimmung an kristallinen Festkörpern unter...
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Mittels des PI 85 können nanomechanische Tests mit einem Rasterelektronenmikroskop durchgeführt werden, wodurch eine sehr...
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Labor-Prüfanlage zur Durchführung von Griffigkeitsprognosen, Polier- und Griffigkeitsprüfungen
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High precision nanoindenter: Hysitron Triboindenter® Maximum load: 12000 µN Resolution: <1 nN Noise floor: 100...
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Werkzeugmaschine zur automatisierten Materialbearbeitung
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Die Bose-Prüfgeräte ElectroForce 3200 (Serie II) sind nur für den Einsatz im Labor-Innenbereich vorgesehen. Sie...
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Sichtbarmachung von magnetischen und nicht-magnetischen Nanostrukturen bei tiefen Temperaturen und hohen Magnetfeldern