Universität Wien
Wien
Kurzbeschreibung
Anlage mit 2 Strahllinien zur Aufnahme von Röntgenlinienprofilen mehrerer Beugungsordnungen, zur Analyse der Dichte und Anordnung von Versetzungen, der Bestimmung lokaler innerer Spannungen dritter Art, sowie zur Bestimmung der Kristallitgröße bzw. –größenverteilung. Das Gerät ist ausgestattet mit zwei Ge-(110)-Monochromatoren sowie 4-Lineardetektoren TYP Braun (Photron-X) PSD-50 und einem Viertelkreisdetektor Typ INEL CPS-590.
Ansprechperson
Erhard Schafler
Research Services
Derzeit werden keine Research Services für diese Forschungsinfrastruktur angeboten. Bei Interesse an einer Kooperation setzen Sie sich bitte mit Erhard Schafler (erhard.schafler@univie.ac.at) in Verbindung.
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Mikrostrukturelle Charakterisierung von sub-mikro- bzw. nanokristallinen Materialien mittels Röntgen-Linienprofilanalyse (XPA).