Rasterkraftmikroskopie und Raman-Spektroskopie Kombigerät

Universität Wien

Wien

Großgerät

Kurzbeschreibung

Rastersondenmikroskop/Raman Kombinationsgerät. Ermöglicht Raman-Spektroskopie, Raman-Mapping, Rasterkraftmikroskopie (AFM, EFM, STM, etc.), Fluoreszenz-Mikroskopie, Lithografie.

Ansprechperson

Jani Kotakoski

Research Services

Derzeit werden keine Research Services für diese Forschungsinfrastruktur angeboten. Bei Interesse an einer Kooperation setzen Sie sich bitte mit Jani Kotakoski (jani.kotakoski@univie.ac.at) in Verbindung.

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

AFM & Raman mapping

Jani Kotakoski
Physik Nanostrukturierter Materialien
T: +43-1-4277-728 44
jani.kotakoski@univie.ac.at
Nach Rücksprache. Bei Interesse an einer Kooperation setzen Sie sich bitte mit Jannik Meyer (jannik.meyer@univie.ac.at) in Verbindung.