Rasterelektronenmikroskop, JEOL IT300 LaB6

Universität Wien

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Großgerät

Kurzbeschreibung

Das Rasterelektronenmikroskop mit seinen Zusatzgeräten erlaubt die Untersuchung von Oberflächen, die durch unterschiedliche Verfahren stabilisiert wurden. Die Qualität der Abbildung ist durch das LaB6 System sehr hoch.

Die Bilddarstellung erfolgt durch die Detektion von Sekundär- und Rückstreuelektronen im Niedrig- und im Hochvakuum Bereich.
Außerdem können im flüssigen Stickstoff tiefgefrorene Proben direkt im Gerät gebrochen, geätzt und beschichtet und bei tiefen Temperaturen abgebildet werden.

Mit der energiedispersiven Röntgenmikroanalyse (EDX) erfolgt eine Detektion von Elementen wobei deren Verteilung in Spektren, Line Scans und Elementverteilungsbilder dargestellt werden.

Ansprechperson

Daniela Gruber

Research Services

Benützung des Gerätes nach Rücksprache anhand der Richtlinien der Core Facility Cell Imaging und Ultrastrukturforschung

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

Naturwissenschaften, Life Science, Medizin

Das Gerät bietet eine Kombination an Techniken, die für die Untersuchung von biologischem Material bestens geeignet ist.
Durch die Auswahl der Probenvorbereitung können sowohl die Oberflächenstrukturen hoch aufgelöst dargestellt sowie Informationen der Elementverteilung und Zusammensetzung erhalten werden. Durch die Kryostabilisation oder die Verwendung im Low-Vakuum-Modus kann auf eine chemische Probenvorbereitung vollständig verzichtet werden.

Daniela Gruber
CIUS, EM Labor
01-4277-57901
Daniela.Gruber@univie.ac.at
http://cius.univie.ac.at/
Benützung des Gerätes nach Rücksprache anhand der Richtlinien der Core Facility Cell Imaging und Ultrastrukturforschung

- obligatorischer Sicherheitsunterweisung
- gründlicher Einschulung am Gerät
- gegen Aufwandsentschädigung
- Kontakt: Daniela.Gruber@univie.ac.at