Kurzbeschreibung
Rauscharmer, geschirmter, halbautomatischer Waferprober, Temperaturbereich -20C bis 200C
Ansprechperson
Dr. Michael Watltl
Research Services
Zuverlässigkeitsmessungen mikroelektronischer Bauelemente
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Langzeitzuverlässigkeitsmessungen
Nach Vereinbarung