Kurzbeschreibung
Das Mikro-XRF-Spektrometer mit monochromatischer Anregung kann die räumliche Verteilung von Haupt-, Neben- und Spurenelementen in zwei Dimensionen tiefenaufgelöst (3D) zerstörungsfrei analysieren. Der instrumentelle standardmäßige konfokale Aufbau des Instruments mit zwei Polykapillar-Halblinsen erlaubt eine räumliche Auflösung der Elementverteilung von bis zu 15x15x15 µm. Durch den Austausch einer der Polykapillar-Linsen durch einen Kollimator kann das Instrument auch in nicht-konfokalen Messmodus betrieben werden (2D).
Die erzielten Nachweisgrenzen sind in der Größenordnung von 1 μg/g nicht-konfokal und 20 μg/g konfokal für z.B.Arsen in einer Glasmatrix unter Verwendung der NIST-Standardreferenzmaterialien (SRMs) 621 und 1412.
Ansprechperson
Ao.Univ. Prof. DI.Dr. Christina Streli
Research Services
Das Röntgenzentrum der Technischen Universität Wien bietet die Durchführung von zerstörungsfreien 2D und 3D Elementanalysen an mit einer Auflösung von 15 x15x15 µm. Das Service wird vorzugsweise für Angehörige der TU Wien angeboten. Im Rahmen von Kooperationen innerhalb von Forschungsprojekten werden auch Messungen/Auswertungen für Institutionen außerhalb der TU Wien angeboten. In beschränktem Umfang können auch Aufträge von Dritten angenommen werden.
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Mit diesem Spektrometer können zerstörungsfrei ortsaufgelöst mit einer Auflösung von minimal 15 µm Elementverteilungen bestimmt werden. Mit dem confocalen Spektrometer können tiefenaufgelöst zerstörungsfrei Elementverteilungen mit einer minimalen Auflösung von 15 µm bestimmt werden. Es können keine Elemente leichter als Schwefel gemessen werden, da die Analyse in Luft durchgeführt wird.