Kurzbeschreibung
Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit integrierter Ionensäule; ausgestattet mit SE, BSE, STEM Detektoren sowie mit energiedispersiver Elementanalytik und EBSD System zur Messung von Kristallorientierungen. Geeignet für elektronenoptische Aufnahmen mit 10 nm Auflösung sowie zur Materialbearbeitung mit sub µm Präzision.
Ansprechperson
Rainer Abart
Research Services
Das Zweistrahlgerät kombiniert ein Feldemissions-Kathoden SEM für hochauflösende Rasterelektronenmikroskopie mit einem FIB-Gerät für Ionenstrahl-Materialbearbeitung zur Erstellung von Querschnitten, Serienschnitten und elektronentransparenten Lamellen. Neben der semiquantitativen mineralchemischen Analytik mittels EDX, ermöglicht die EBSD-Kamera die Abbildung von kristallographischen Orientierungen an hochpolierten Oberflächen.
Das FEG-SEM-FIB Gerät soll vorwiegend die Forschungsinteressen am EWZ und an den assoziierten Subeinheiten bedienen und wird auch zur Ausbildung in einschlägigen analytischen Methoden auf MSc und PhD Niveau herangezogen.
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Rasterelektronenmikroskopie
Elementanalytik EDX
Kristallorientierungsanalytik EBSD
STEM
Ionenstrahlbearbeitung
3D Rekonstruktion
TEM Folien Extraktion
Die Nutzungsgebühren werden jährlich angepasst
FGGA-UWG
FGGA-MIN
FGGA-PAL
TU Wien
KFU Graz
Institute Jozef Stefan Ljubljana (SVN)
ASCR Prague (CZ)
IGEM-RAS (RUS)
Charles Univ. Prague (CZ)