Rasterelektronenmikroskop - NanoLab Innsbruck

Universität Innsbruck

Innsbruck

Großgerät

Kurzbeschreibung

JSM-7610F - FE-REM Schottky Feld Emissions Rasterelektronenmikroskop für Nanotechnologie

Mit dem Rasterelektronenmikroskop können kleinste Strukturen von Materialien und Oberflächen untersucht werden. Dieses Gerät bzw. die spezielle Bauart ist auf die Untersuchung von Nanotechnologie und Nanomaterialien konzipiert. Durch den Schottky Emitter und die In-Lens Detektoren können Vergrößerungen bis zu 1 000 000 fach erreicht werden. Dadurch kann man kleinste Geometrien auflösen und die Strukturen modernster high-tech Materialien erfassen und gleichzeitig mit der gekoppelten EDS ihre chemische Zusammensetzung analysieren.

Ansprechperson

Univ.-Prof. Dr. Roman Lackner

Research Services

Nach Rücksprache mit der zuständigen Kontaktperson

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

Die Rasterelektronenmikroskopie wird am AB Materialtechnologie seit über einem Jahrzehnt eingesetzt um Werkstoffe zu charakterisieren. Mit dem Schottky Emitter können nun auch kleinste Strukturen aufgelöst und charakterisiert werden.

Zuordnung zur Core Facility

Core Facility "NanoLab Innsbruck"

Univ.-Prof. Dr. Roman Lackner
Institut für Konstruktion und Materialwissenschaften, AB Materialtechnologie
+43 512 507 63500
Roman.Lackner@uibk.ac.at
Nach Vereinbarung mit der zuständigen Kontaktperson.