Raster Kraft Mikroskop (AFM)

JKU - Johannes Kepler Universität Linz

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Großgerät

Kurzbeschreibung

Raster Kraft Mikroskop (AFM) mit drei Scanachsen im AFM Kopf und drei Scanachsen im Probentisch.

Ansprechperson

Univ.-Prof. Dr. Thomas A. Klar

Research Services

Grundlagenforschung im Rahmen wissenschaftlicher Kooperationsprojekte

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

Raster-Sonden-Mikroskopie

Univ.-Prof. Dr. Thomas A. Klar
Institut für Angewandte Physik
+43 732 2468 9400
thomas.klar@jku.at
http://www.jku.at/applphys
Die Nutzungsbedingungen für das Gerät sind zu vereinbaren. Informationen und Kontaktdaten finden Sie auf der JKU Webseite unter http://www.jku.at/applphys/.