Kurzbeschreibung
Raster Kraft Mikroskop (AFM) mit drei Scanachsen im AFM Kopf und drei Scanachsen im Probentisch.
Ansprechperson
Univ.-Prof. Dr. Thomas A. Klar
Research Services
Grundlagenforschung im Rahmen wissenschaftlicher Kooperationsprojekte
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Raster-Sonden-Mikroskopie
Die Nutzungsbedingungen für das Gerät sind zu vereinbaren. Informationen und Kontaktdaten finden Sie auf der JKU Webseite unter http://www.jku.at/applphys/.