Waverprober Cascade SUMMIT 12000B-M

JKU - Johannes Kepler Universität Linz

Linz | Website

Großgerät

Kurzbeschreibung

Der halbautomatische Wafer-Prober Summit 12K dient zur Charakterisierung von Halbleiterschaltkreisen auf Wafern bis zu 12“. Messspitzen stehen von DC bis 330 GHz zur Verfügung. Für die elektrischen Messungen an den Schaltkreisen sind entsprechende Messgeräte, beispielsweise zur Leistungsmessung, Spektralmessung und Netzwerkanalyse, vorhanden.

Ansprechperson

Univ.-Prof. DI Dr. Andreas Stelzer

Research Services

Messtechnische Charakterisierung von Halbleiterschaltkreisen im Frequenzbereich von DC bis 330 GHz. Dazu stehen zwei HF-Positioniertische und HF-Quellen mit unsymmetrischer und voll-differentieller Ansteuerung, sowie zusätzliche DC-Spitzen für die Versorgung, zur Verfügung. Die durchführbaren Messungen reichen von Leistungsmessungen bis Spektral- und Netzwerkanalyse an linearen und nichtlinearen bzw. frequenzumsetzenden Bauteilen.

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

Themat. Schwerpunkt: Mikrowellenmesstechnik, IC-Design, Radarsensorik;
mm-Wellen-Komponenten und Subsysteme, Bildgebende mm-Wellen-Systeme.

Zuordnung zur Core Facility

Hochfrequenz(mess)technik

Univ.-Prof. DI Dr. Andreas Stelzer
Institut für Nachrichtentechnik und Hochfrequenzsysteme, Abteilung für Hochfrequenzsysteme
+43 732 2468 6372
andreas.stelzer@jku.at
https://www.jku.at/nthfs/
Für Details kontaktieren Sie bitte die verantwortliche Person.