Short Description
Das "TECNAI G2 20" ist ein analytisches Transmissionselektronenmikroskop mit Röntgendetektor, Rastertransmissionsmodus, Gatan Imagefilter GIF 2001 und CCD Kameras.
Es erlaubt einzigartig Betriebsspannung von 10 kV bis 200 kV bei gleichzeitiger Verwendung des Energieverlustspektrometers.
Zusätze sind diverse Probenhalter, u.a. Heizhalter und Tieftemperatur-Probenhalter sowie Cathodolumineszenz-Probenhalter und Spektrometer.
Contact Person
Privatdoz. Dipl.-Ing. Dr.techn. Michael Stöger-Pollach
Research Services
Die Forschungs-Facility USTEM ist die zentrale Einrichtung der TU Wien für analytische und hochauflösende elektronenmikroskopische Untersuchungen. USTEM unterstützt Angehörige der TU Wien oder von anderen Forschungseinrichtungen bei der Durchführung von Projekten im Rahmen der Forschungsförderung oder Auftragsforschung und bietet Dienstleistungen für Firmen oder externen Kunden mit Operatorunterstützung. Die Schwerpunkte von USTEM sind Transmissionselektronenmikroskopie (TEM), Rasterelektronenmikroskopie (SEM) und Focused Ion Beam (FIB) Anwendungen.
Spezielle Services an dem TECNAI G² 20 S-TWIN:
- Analytische Transmissionselektronenmikroskopie
- Energieverlustspektrometrie: Valence-EELS und Low Voltage EELS bei Beschleunigungsspannungen von 10 kV bis 200 kV
- Halbleiteruntersuchungen mit EELS
- Chemische Mikroanalyse
- Strukturanalyse mittels Elektronenbeugung
Methods & Expertise for Research Infrastructure
Analytische Transmissionselektronenmikroskopie mit Rastermodus (STEM)
Valence-EELS und Low Voltage EELS mit bis zu 10 kV Beschleunigungsspannung, speziell für Halbleiteruntersuchungen
Struktur- und Phasenanalyse mittels Elektronenbeugung
Mikroanalyse mit hoher Ortsauflösung mittels EDX und EELS
Allocation to research infrastructure
CERN
Carinthian Tech Research AG
Universität Wien
Frauenhofer Institut Dresden CNT
ÖAW
AC2T
Transition radiation in EELS and cathodoluminescence. (2017). Stöger-Pollach, M., Kachtík, L., Miesenberger, B., & Retzl, P. Ultramicroscopy, 173, 31-35. doi:10.1016/j.ultramic.2016.11.020
The čerenkov limit of si, GaAs and GaP in electron energy loss spectrometry. (2015). Horák, M., & Stöger-Pollach, M. Ultramicroscopy, 157, 73-78. doi:10.1016/j.ultramic.2015.06.005