Halbautomatischer Waferprober

Vienna University of Technology

Wien

Large equipment

Short Description

Rauscharmer, geschirmter, halbautomatischer Waferprober, Temperaturbereich -60C bis 200C

Contact Person

Dr. Michael Watltl

Research Services

Zuverlässigkeitsmessungen mikroelektronischer Bauelemente

Methods & Expertise for Research Infrastructure

Langzeitzuverlässigkeitsmessungen

Dr. Michael Watltl
Institut für Mikroelektronik
michael.waltl@tuwien.ac.at
https://www.iue.tuwien.ac.at/staff/waltl
Nach Vereinbarung