Short Description
Rauscharmer, geschirmter, halbautomatischer Waferprober, Temperaturbereich -20C bis 200C
Contact Person
Dr. Michael Watltl
Research Services
Zuverlässigkeitsmessungen mikroelektronischer Bauelemente
Methods & Expertise for Research Infrastructure
Langzeitzuverlässigkeitsmessungen
Nach Vereinbarung