Rasterkraftmikroskop JPK SENSE SPM

University of Innsbruck

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Large equipment

Short Description

Kommerzielles Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Abbildung von Oberflächen mit hoher Genauigkeit. Messungen sind an Luft und in Lösungsmitteln möglich. Eine Modul zur Temperaturregelung ist vorhanden, ebenso der QI-Mode und der FastScan Mode von JPK. Anwendungen sind: Untersuchung des Einflusses mechanischer Kraft auf einzelne Moleküle, insbesondere mit Fokus auf Abrisskräfte und Dissoziationskinetiken ausgewählter chemischer Verbindungen anhand von Rasterkraftmikroskopie; Hochauflösende Bilder von z.B. Oberflächen und Bioproben.

Contact Person

Univ.-Prof. Martin Beyer

Research Services

- Einzelmolekülkraftspektroskopie
- Abbilden von Oberflächenstrukturen
- Quantitatives Imaging (Abbildung unter Berücksichtigung der Elastizität der Oberfläche mit dem QI-Mode des Geräts)

Methods & Expertise for Research Infrastructure

Das Rasterkraftmikroskop wird vorrangig für die Einzelmolekülkraftspektroskopie von kovalenten Bindungen eingesetzt. Dabei kommen die Methoden des Force-Ramp und Force-Clamp zum Einsatz. Im Rahmen von Kooperationen werden auch biologische Proben und Materialproben untersucht.

Univ.-Prof. Martin Beyer
Institut für Angewandte Physik und Ionenphysik
+43 512 507 52680
martin.beyer@uibk.ac.at
https://www.uibk.ac.at/ionen-angewandte-physik/chemphys/
Nach Absprache, entweder über Auftragsmessungen oder im Rahmen einer wissenschaftlichen Kooperation.