University of Innsbruck
Innsbruck | Website
Short Description
Kommerzielles Rasterkraftmikroskop (AFM) zur Abbildung von Oberflächen mit hoher Genauigkeit. Messungen sind an Luft und in Lösungsmitteln möglich. Eine Modul zur Temperaturregelung ist vorhanden, ebenso der QI-Mode und der FastScan Mode von JPK. Anwendungen sind: Untersuchung des Einflusses mechanischer Kraft auf einzelne Moleküle, insbesondere mit Fokus auf Abrisskräfte und Dissoziationskinetiken ausgewählter chemischer Verbindungen anhand von Rasterkraftmikroskopie; Hochauflösende Bilder von z.B. Oberflächen und Bioproben.
Contact Person
Univ.-Prof. Martin Beyer
Research Services
- Einzelmolekülkraftspektroskopie
- Abbilden von Oberflächenstrukturen
- Quantitatives Imaging (Abbildung unter Berücksichtigung der Elastizität der Oberfläche mit dem QI-Mode des Geräts)
Methods & Expertise for Research Infrastructure
Das Rasterkraftmikroskop wird vorrangig für die Einzelmolekülkraftspektroskopie von kovalenten Bindungen eingesetzt. Dabei kommen die Methoden des Force-Ramp und Force-Clamp zum Einsatz. Im Rahmen von Kooperationen werden auch biologische Proben und Materialproben untersucht.
Institut für Angewandte Physik und Ionenphysik
+43 512 507 52680
martin.beyer@uibk.ac.at
https://www.uibk.ac.at/ionen-angewandte-physik/chemphys/