Rasterelektronenmikroskop

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MCI - Management Center Innsbruck Ltd.

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Large equipment

Short Description

Beim Rasterelektronenmikroskop handelt es sich um ein JEOL-JSM-IT200-LA mit EDX-Einheit. Die verwendbare Beschleunigungsspannung liegt im Bereich von 0,5-30 kV. Der Vergrößerungsbereich beträgt 5-300.000-fach. Das integrierte EDX-System ermöglicht die Live-Analyse und Anzeige von Spektren bzw. qualitative / quantitative Probenanalyse.

Die maximale Probengröße besitzt einen Durchmesser von 152 mm und eine Höhe von 50 mm. Die xy-Achsen des Objekttisches sind motorisiert und ermöglichen eine Kippung zwischen -10° und +90 °. Das Gerät bietet die Möglichkeit zur Probenanalyse im Niedervakuumbereich (10 – 100 Pa). Als Elektronenquelle wird eine Wolfram-Kathode verwendet. Das Gerät zeichnet sich durch seine Vielfältigkeit und einfache Bedienung aus und ermöglicht die Analyse von verschiedensten Materialien. Anwendung findet es beispielsweise bei der Analyse von Polymerstrukturen in Filtrationsmembranen, der Analyse von Katalysator-Materialien, der Größen- und Formbestimmung von Kohle- bzw. Aktivkohlepartikeln. Durch die Möglichkeit einer zusätzlichen Probenbeschichtung und dem verfügbaren Niedervakuumbereich können mit dem bestehenden System auch elektrisch nicht leitfähige Materialien (wie bspw. Kunststoffe etc.) analysiert werden.

Contact Person

Martin Spruck

Research Services

nach Vereinbarung, Kooperationen erwünscht

Methods & Expertise for Research Infrastructure

In Rasterelektronenmikroskopen (REM, englisch SEM für Scanning Electron Microscope) wird anstelle von sichtbarem Licht (Lichtmikroskop) ein Elektronenstrahl über die Probe geführt. Der gebündelte Elektronenstrahl wird durch magnetische Ablenkspulen über die Probenoberfläche geführt (gerastert). Die Wechselwirkungen der Elektronen mit der Probe werden zur Bilderzeugung genutzt. Der Elektronenstrahl (Primärelektronen), welcher durch eine Kathode (Elektronenquelle) erzeugt wird, trifft auf das zu untersuchende Material und erzeugt Rückstreuelektronen (BSE für Backscattered Electrons) und Sekundärelektronen (SE). Erstere sind vom Objekt zurückgestreute Primärelektronen, zweite entstehen durch Wechselwirkungen der Primärelektronen mit den Atomen der Probe. Die BSE und SE werden von Elektronenfängern (Detektoren) aufgenommen und zu einem Bild auf dem Analysemonitor weiterverarbeitet.

Martin Spruck ist Schwerpunktleiter des Forschungsschwerpunktes "Energy & Process Technologies" am MCI - Die Unternehmerische Hochschule®.
Martin Spruck
Department Umwelt-, Verfahrens- und Energietechnik
051220703236
energyandprocess@mci.edu
https://www.mci.edu
nach Vereinbarung
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