JEOL JSM-6400 Rasterelektronenmikroskop inkl. Zubehör

University of Vienna

Wien | Website

Large equipment

Short Description

Rasterelektronenmikroskop inkl. Zubehör (Magnetkompensationssystem, BIORAD Besputterungsgerät (C/Au) und OXFORD ISIS 200 EDX-System)

Contact Person

Dr. Christian Baal

Research Services

Nutzung nach Kontaktaufnahme bzw. Rück- und Absprache mit der zuständigen Subeinheit: Institut für Paläontologie

Methods & Expertise for Research Infrastructure

Ultrastruktur- bzw. Mikroanalytik mittels (Wolframkathoden)-Rasterelektronenmikroskopischer (SEM) Methode

Dr. Christian Baal
Institut für Paläontologie
T: +43-1-4277-53613
christian.baal@univie.ac.at
https://www.univie.ac.at
Einschulung am Gerät (für interne und externe Nutzer durch den verantwortlichen Administrator und Operator)