Vienna University of Technology
Wien
Large equipment
Short Description
Rauscharmer, geschirmter, halbautomatischer Waferprober, Temperaturbereich -60C bis 200C
Contact Person
Dr. Michael Watltl
Research Services
Zuverlässigkeitsmessungen mikroelektronischer Bauelemente
Methods & Expertise for Research Infrastructure
Langzeitzuverlässigkeitsmessungen
Dr. Michael Watltl
Institut für Mikroelektronik
michael.waltl@tuwien.ac.at
https://www.iue.tuwien.ac.at/staff/waltl
Institut für Mikroelektronik
michael.waltl@tuwien.ac.at
https://www.iue.tuwien.ac.at/staff/waltl
Nach Vereinbarung