Short Description
Konfokalmikroskop:
- 3D Oberflächentopographie
- Oberflächenrauheitsmessung (DIN EN ISO)
Spezificationen
- Weißlicht
- Auflösung < 20 nm
- Genauigkeit ~ µm
- Probenhalterung 1550 x 800 mm
Contact Person
Alexander Diem
Research Services
Konfokalmikroskop:
- 3D Oberflächentopographie
- Oberflächenrauheitsmessung (DIN EN ISO)
Spezificationen
- Weißlicht
- Auflösung < 20 nm
- Genauigkeit ~ µm
- Probenhalterung 1550 x 800 mm
Methods & Expertise for Research Infrastructure
Charakterisierung von Oberflächen
Nutzungsbedingungen nach Absprache.