Elektronenmikroskop FEI XL30 FEG Sem,TSS

Universität Wien

Wien | Website

Großgerät

Kurzbeschreibung

Es handelt sich um ein gebrauchtes Rasterelektronenmikroskop, welches projektspezifisch adaptiert wurde.

Ansprechperson

Thomas Juffmann

Research Services

Es werden keine Forschungsdienstleistungen mit dem Gerät angeboten.

Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur

Das Rasterelektronenmikroskop wird als Entwicklungsplattform für neue Technologien für die Elektronenoptik verwendet. Insbesondere wird darin die Wechselwirkung von Licht mit freien Elektronen erforscht.

Thomas Juffmann
Fakultät für Physik
01427772520
thomas.juffmann@univie.ac.at
https://imaging.univie.ac.at/
Das Projekt kann ausschließlich projektspezifisch verwendet werden.
ERC starting grant 'Micromoupe'