Kurzbeschreibung
Das Röntgenmikroskop Xradia 520 Versa der Firma Zeiss ermöglicht eine zerstörungsfreie Charakterisierung der 3D-Mikrostruktur von Materialien sowie hochauflösende CT- Aufnahmen im Submikrometerbereich mit einer maximalen räumlichen Auflösung von 700 nm und einer nominalen Auflösung von 70 nm (minimale Voxel-Größe). Die Röntgenröhre (Wolfram-Target) kann mit einer maximalen Leistung von 10 W und einer Beschleunigungsspannung von 30 bis 160 kV betrieben werden.
Zur Verfügung steht auch eine Heating/Loading Stage CT5000-TEC zur Detektierung von Veränderungen in der Mikrostruktur infolge mechanischer und thermischer Belastung; modulares Zug- und Druckprüfsystem mit 5KN-Wägezelle mit einer Genauigkeit von +/- 1% des gesamten Messbereichs, maximale Auflösung, 1000:1 dynamisch, 2000:1 statisch (des vollen Messbereichs), Heiz- und Kühlsystem von -20 °C bis +160 °C
Ansprechperson
Roman Lackner
Research Services
Nach Rücksprache mit der zuständigen Kontaktperson
Methoden & Expertise zur Forschungsinfrastruktur
Röntgenmikroskop zur zerstörungsfreien Charakterisierung der 3D-Mikrostruktur von Materialien unter thermischer/mechanischer Belastung sowie hochauflösende CT-Aufnahmen im Submikrometerbereich
Zuordnung zur Forschungsinfrastruktur
Technische Universität Graz
Montanuniversität Leoben
Medizinische Universität Innsbruck
Freie Universität Bozen
Universität Trient