Austrian Centre for Electron Microscopy and Nanoanalysis

Graz University of Technology

Graz | Website

Core facility (CF)

Short Description

Das Institut für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik (FELMI) konzentriert seine Forschungs- und Entwicklungsaktivitäten auf die mikroskopische Materialcharakterisierung und die Anwendung mikroskopischer Untersuchungsmethoden auf aktuelle wissenschaftliche und technische Problemstellungen. Schwerpunkte dieser Arbeiten liegen in der Materialmikroskopie mit Elektronen, Ionen und Licht inklusive der Methoden der Mikro- und Nanoanalytik.
Das Institut verfügt über umfangreiches analytisches und materialspezifisches Know-how auf dem Sektor der Funktionsmaterialien, Biomaterialien, Leichtmetalle und der Nanofabrikation.
In Kooperation mit dem Zentrum für Elektronenmikroskopie Graz betreibt das Institut das "Austrian Scanning Transmission Electron Microscope (ASTEM), mit dem Materialstrukturen mit atomarer Auflösung erforscht werden können.

Contact Person

Univ.-Prof. DI Dr. Ferdinand Hofer

Research Services

Kooperative Forschung mit Universitätsinstituten, außeruniversitäre Forschung und Industrie mit einem Schwerpunkt auf KMUs.
1. Oberflächen- und Mikroanalysen mittels Rasterelektronenmikroskopie, Röntgenspektrometrie
2. Chemical Imaging mittels FT-Infrarot- und Raman-Mikroskopie
3. Entwicklung von funktionellen Nanostrukturen (3D-Nanofabrikation) mit der Focused-Ion Beam Methode (FIB)
4. Schadensfallanalytik von metallischen Werkstoffen, elektronischen Bauelementen, Sensoren, Leichtmetallen und Verbundwerkstoffen
5. Nanoanalytik mittels hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) mit EELS und EDX, HAADF-Abbildung und Tomographie bis zur atomaren Auflösung
für Materialforschung, Halbleiterbauelemente, Sensoren und Nanoteilchen
6. Mikroskopische Kristallstrukturanalyse mittels Elektronenbeugung im REM und TEM

Methods & Expertise for Research Infrastructure

1. Mikroanalyse von Materialoberflächen und Materialquerschnitten, Schadensfallanalytik:
Rasterelektronenmikroskopie mit Röntgenspektrometrie (EDX und WDX) und Elektronenbeugung (EBSD)
In-situ Rasterelektronenmikroskopie (Evironmental SEM) für mikroskopische in-situ Charakterisierung von Oberflächen und der inneren Struktur von Kunststoffen, Legierungen, Biomaterialien, Halbleiterbauelemente, Keramiken, Umweltproben und pharmazeutischen Proben.
2. Rastersondenmikroskopie, vor allem Rasterkraftmikroskopie für die Untersuchung der Topographie von Materialoberflächen und für die dynamische Untersuchungen von Materialoberflächen und biologischen Systemen in flüssiger Umgebung.
3. Nanoanalytik für die Untersuchung des inneren Aufbaus von Werkstoffen, Bauelementen und Biomaterialien
Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie (TEM, HREM und STEM), Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS), Röntgenspektrometrie (EDX) und Elektronentomographie, Nanoanalyse bis zur atomaren Auflösung
4. Focused-Ion-Beam Technologie (FIB) mit einem Dual-beam FIB Mikroskop: Aufbau von neuartigen 3D-Nanostrukturen (3D Nanofabrikation) für die Entwicklung funktioneller Nanostrukturen (Sensoren, Bauelemente)
5. Chemical Imaging von organischen, biologischen und pharmazeutischen Materialien mit FT-Infrarot-Spektromikroskopie und konfokalem Raman-Mikroskop

Equipment

Austrian Centre for Electron Microscopy and Nanoanalysis
Technische Universität Graz
Univ.-Prof. DI Dr. Ferdinand Hofer
Institut für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik
0316/873-8820
ferdinand.hofer@tugraz.at
http://www.felmi-zfe.at
http://www.TUGraz.at
Nutzungsbedingungen auf der Webpage des Instituts für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik:
http://felmi-zfe.at
Johannes-Kepler Universität Linz
Montanuniversität Leoben
Karl-Franzens-Universität Graz
Medizinische Universität Graz
Österreichisches Gießerei Institut Leoben
OFI, Wien
Austrian Cooperative Research (ACR)
University of Melbourne (Australien)
Lehigh University (USA)
University of Antwerp (Belgien)
University of Tennessee (USA)
University of Cambridge (U.K.)
Fritz-Haber-Institut der MPG (Deutschland)
University Paris Sud (Frankreich)
Politecnico Milano (Italien)
Okinawa Institute of Science and Technology (Japan)
Universität Frankfurt am Main (Deutschland)
Universität Halle-Wittenberg (Deutschland)
Josef-Stefan Institut (Slowenien)
ESTEEM2 European Network for Electron Microscopy
2012-2016
Ferdinand Hofer (Koordinator Österreich)
Partner:
CEMES-CNRS Toulouse (Frankreich)
University of Oxford (U.K.)
Universite Paris-Sud (Frankreich)
University of Cambridge (U.K.)
University of Antwerp (Belgien)
Forschungszentrum Jülich (Deutschland)
Max-Plank-Institut für Festkörperforschung (Deutschland)

SENTINEL Self Sensing Nanoprobes for Electric and Thermal in-situ Characterization in Electron Microscopes
2015-2017
Harald Plank (Projektleiter)
Partner:
GETec KG, Langenlois
Chinesische Akademie der Wissenschaften, Shanghai, China
Correlated 3D nanosclae mapping and simulation of coupled plasmonic nanoparticles
2015
Georg Haberfehlner, Andreas Trügler, Franz Philipp Schmidt, Anton Hörl, Ferdinand Hofer, Ulrich Hohenester, Gerald Kothleitner
Nano Letters 15, 7726-7730
DOI: 10.1021/acs.nanolett.5b03780

Focused particle beam nano-machining: the next evolution step towards simulation aided process prediction
2015
Harald Plank
Nanotechnology 26, 050501-4
DOI: 10.1088/0957-4484/26/5/050501

Formation of bimetallic clusters in superfluid helium nanodroplets analysed by atomic resolution electron tomography
2015
Georg Haberfehlner, Philipp Thaler, Daniel Knez, Alexander Volk, Ferdinand Hofer, Wolfgang Ernst, Gerald Kothleitner
Nature Commun. 6, 8779
DOI: 10.1038/ncomms9779

High-quality imaging in environmental scanning electron microscopy
Harald Fitzek, Hartmuth Schröttner, Julian Wagner, Ferdinand Hofer, Johannes Rattenberger
2015
Journal of Microscopy
DOI: 10.1111/jmi.12347

In Situ Investigation of the Oxidation of Cobalt-Base Superalloys in the Environmental Scanning Electron Microscope
2015
Martin Weiser, Angelika Reichmann, Mihaela Albu, Sannakaisa Virtanen, Peter Pölt
Advanced Engineering Materials 17, 1158-1167
DOI: 10.1002/adem.201500146

Plasmon modes of a silver thin film taper probed with STEM-EELS
Franz Philipp Schmidt, Harald Ditlacher, Andreas Trügler, Ulrich Hohenester, Andreas Hohenau, ferdinand Hofer, Joachim R Krenn
2015
Optics Letters 40, 5670-5673
DOI: 10.1364/OL40.005670

Serial sectioning methods for 3D investigations in materials science
Armin Zankel, Julian Wagner, Peter Pölt
2014
Micron 62, 66-78
DOI:10.1016/j.micron.2014.03.002

Fundamental Resolution Limits during Electron-Induced Direct-Write Synthesis
2014
Georg Arnold, Rajendra Timislina, Jason Folwkes, Angelina Orthacker, Gerald Kothleitner, Philip D. Rack, Harald Plank
ACS Applied Materials and Interfaces 6, 7380-7387
DOI: 10.1021/am5008003

Quantitative Elemental Mapping at atomic Resolution Using X-Ray Spectrocopy
2014
Gerald Kothleitner, M. J. Neish, Nathan R. Lugg, Scott Findlay, Werner Grogger, Ferdinand Hofer, Les J. Allen
Physical Review Letters 112, 085501-1-5
DOI: 10.1103/PhysRevLett.112.085501

Universal Dispersion of Surface Plasmons in Flat
Nanostructures
2014
Franz-Philipp Schmidt, Harald Ditlbacher, Ulrich Hohenester, Andreas Hohenau, Ferdinand Hofer, Joachim R. Krenn
Nature Communications 5 3604
DOI: 10.1038/ncomms4604

Fundamental Proximity Effects in Focused Electron Beam Induced Deposition
Harald Plank, Daryl A. Smith, Thomas Haber, Philip D. Rack, Ferdinand Hofer
2012
ACS Nano 6, 286-294
DOI: 10.1021/nn204237h