Mikroskop; BASIC UNIT SIGMA 300VP

Graz University of Technology

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Large equipment

Short Description

Das hochauflösende Rasterelektronenmikroskop Zeiss Sigma 300 VP ermöglicht die Abbildung von elektrisch leitfähigen Proben im Hochvakuummodus und von nicht leitfähigen Proben im Niedervakuummodus (Engl.: variable pressure mode, VP)
Es ist mit zwei Zusatzeinrichtungen ausgestattet:

1. Raman-Mikroskop
Durch das angeschlossene Raman-Mikroskop wird das Gerät zum sogenannten RISE-System.
RISE: Raman Imaging and Scanning Electron Microscopy

2. EDX-Detektor:
Der Detektor Oxford XMAX 80 (SDD-Technologie) ermöglicht EDX-Spektren und EDX-Mappings bei vergleichsweise hohem Signal und kurzer Messzeit. Auch Large Area Mapping (LAM) ist möglich.

Contact Person

Ing. Hartmuth Schroettner

Research Services

Correlative Micrsoscopy: High Resution Scanning Electronmicroscopy combined with
* Raman Microscopy
* Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy

Methods & Expertise for Research Infrastructure

Das Rasterlektronenmikroskop (REM, engl. SEM) ermöglicht die morphologische Charakterisierung von Probenoberflächen mittels Sekundärelektronen (SE, Topographiekontrast) und Rückstreuelektronen (BSE, Materialkontrast).

Zusatzgerät Nr.1: Ramanspektroskopische Untersuchung von Probenoberflächen.

Zusatzgerät Nr.2: Qualitative und quantitative EDX-Untersuchung (EDX. energiedispersive Röntgenspektroskopie) zur Ermittlung chemische Elementzusammensetzungen von Probenoberflächen.

Allocation to Core Facility

Austrian Centre for Electron Microscopy and Nanoanalysis

Ing. Hartmuth Schroettner
SEM-IR/Raman
+43 316 873 8349
hartmuth.schroettner@felmi-zfe.at
http://www.felmi-zfe.at
The combination of electron microscopy, Raman microscopy and energy dispersive X-ray spectroscopy for the investigation of polymeric materials
2019
R. Schmidt, H. Fitzek, M. Nachtnebel, C. Mayrhofer, H. Schroettner, A. Zankel,
Makromolecular symposia, submitted