Short Description
Das hochauflösende Rasterelektronenmikroskop Zeiss Sigma 300 VP ermöglicht die Abbildung von elektrisch leitfähigen Proben im Hochvakuummodus und von nicht leitfähigen Proben im Niedervakuummodus (Engl.: variable pressure mode, VP)
Es ist mit zwei Zusatzeinrichtungen ausgestattet (finanziert durch das Zentrum für Elektronenmikroskopie Graz (Verein zur Förderung der Elektronenmikroskopie)):
1. Raman-Mikroskop:
Durch das angeschlossene Raman-Mikroskop wird das Gerät zum sogenannten RISE-System.
RISE: Raman Imaging and Scanning Electron Microscopy
2. EDX-Detektor:
Der Detektor Oxford XMAX 80 (SDD-Technologie) ermöglicht EDX-Spektren (EDX: engl. für energy dispersive X-ray spectroscopy; dt.: Energiedispersive Röntgenspektroskopie) und EDX-Mappings bei vergleichsweise hohem Signal und kurzer Messzeit.
Contact Person
Ing. Hartmuth Schroettner
Research Services
Correlative Micrsoscopy: High Resution Scanning Electronmicroscopy combined with
* Raman Microscopy
* Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy
Methods & Expertise for Research Infrastructure
Das Rasterlektronenmikroskop (REM, engl. SEM) ermöglicht die morphologische Charakterisierung von Probenoberflächen mittels Sekundärelektronen (SE, Topographiekontrast) und Rückstreuelektronen (BSE, Materialkontrast).
Zusatzgerät Nr.1: Ramanspektroskopische Untersuchung von Probenoberflächen.
Zusatzgerät Nr.2: Qualitative und quantitative EDX-Untersuchung zur Ermittlung chemischer Elementzusammensetzungen von Probenoberflächen.
Allocation to research infrastructure
2019
R. Schmidt, H. Fitzek, M. Nachtnebel, C. Mayrhofer, H. Schroettner, A. Zankel,
Makromolecular symposia, submitted