Messplatz Mikroelektronik Charakterisierung

University of Applied Sciences Wiener Neustadt – FHWN

Wiener Neustadt | Website

Other research infrastructure

Short Description

Wafer Probe Station mit DC-Probes sowie Single- & Differential HF-Probes bis 20GHz
Wafer Inspections -Mikroscope für Bright- & Darkfield, Obj. 2.5x/5x/10x/20x/50x/100x/WhiteLight Interferometry
Mixed Signal Oszilloskop 4Ch DSO, 2.5GHz analog, 40GS/s, 36Ch digital
Spectrum & Vector Network Analyzer bis 3GHz
Industrial Parameter Analyzer - Automatic wafer level component characterization

Contact Person

Dipl.-Ing. Dr. Christian Koller

Research Services

Mikroelektronik Charakterisierung

Methods & Expertise for Research Infrastructure

MEMS- und Mikroelektronik Charakterisierung auf Wafer-Level

Dipl.-Ing. Dr. Christian Koller
Fachbereich Electrical Engineering
+43/5/0421 1213
christian.koller@fhwn.ac.at
https://www.fhwn.ac.at/
Bitte wenden Sie sich an die unter Kontakt angegebene Kontaktperson