University of Innsbruck
Innsbruck
Short Description
JSM-7610F - FE-REM Schottky Feld Emissions Rasterelektronenmikroskop für Nanotechnologie
Mit dem Rasterelektronenmikroskop können kleinste Strukturen von Materialien und Oberflächen untersucht werden. Dieses Gerät bzw. die spezielle Bauart ist auf die Untersuchung von Nanotechnologie und Nanomaterialien konzipiert. Durch den Schottky Emitter und die In-Lens Detektoren können Vergrößerungen bis zu 1 000 000 fach erreicht werden. Dadurch kann man kleinste Geometrien auflösen und die Strukturen modernster high-tech Materialien erfassen und gleichzeitig mit der gekoppelten EDS ihre chemische Zusammensetzung analysieren.
Contact Person
Univ.-Prof. Dr. Roman Lackner
Research Services
Nach Rücksprache mit der zuständigen Kontaktperson
Methods & Expertise for Research Infrastructure
Die Rasterelektronenmikroskopie wird am AB Materialtechnologie seit über einem Jahrzehnt eingesetzt um Werkstoffe zu charakterisieren. Mit dem Schottky Emitter können nun auch kleinste Strukturen aufgelöst und charakterisiert werden.
Allocation to Core Facility
Institut für Konstruktion und Materialwissenschaften, AB Materialtechnologie
+43 512 507 63500
Roman.Lackner@uibk.ac.at