Rasterkraftmikroskop 2

Vienna University of Technology

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Large equipment

Short Description

Das Rasterkraftmikroskop (AFM, Modell Cypher) ist ein Rastersondenmikroskop, das für die Gewinnung hochaufgelöster Bilder von Oberflächen eingesetzt werden kann (molekulare und atomare Auflösung auch in wässrigen Medien möglich). Das Gerät ist mit einem "Environmental Scanner" ausgestattet. Damit kann man Kraft- und Topographiemessungen in technischen, in wässrigen (auch biologischen) so wie in feuchten Umgebungen bis zu molekularer Ebene durchführen. Das vorhandenen AFM zeichnet sich auch durch eine optische Antriebsmethode auf Basis von blauem Laserlicht aus (Blue Drive), womit Proben auch in hoch-viskosen Medien (z.B. ionische Flüssigkeiten) untersucht werden können.

Contact Person

Univ. Prof. Dr. techn. DI Markus Valtiner

Research Services

Auftragsmessungen (Topographie, Haftkraft)

Methods & Expertise for Research Infrastructure

Das Gerät wird im Bereich der Grundlagenforschung von Adhäsionphänomenen (Haftkraft, Einzelmolekulare Haftung) genutzt. Weiterhin werden hochauflösend im µm-Bereich bis hin zu atomarer Auflösung Topographieuntersuchungen durchgeführt. Dabei sind insbesondere Stabilitäten von Oberflächen in wässrigen Medien, sowie die Abbildung von Ionen und Moleküladsorptionen an fest/flüssig Grenzflächen im Fokus. Auf technologischer Ebene sind hier insbesondere Korrosionsbeständigkeit und Testen von Inhibitoren, sowie Haftkraftmessungen zur Klebstoffentwicklung von Interesse.

Univ. Prof. Dr. techn. DI Markus Valtiner
Angewandte Physik
+43-1-58801-13440
valtiner@iap.tuwien.ac.at
http://www.iap.tuwien.ac.at
Auf Nachfrage / bei Kontaktaufnahme erhältlich