62 Research Infrastructures / Open for Collaboration
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- Large equipment
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- Spatial research infrastructure
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- Core facility (CF)
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80 wireless 3C-MEMS-seismometers (Unite, Sercel)
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High Pressure, High Temperature (HPHT) Consistometers are designed to test a cement's thickening time under...
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The research@ZaB enables research at highest level not just on all challanges related to tunnel...
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The research@ZaB enables research at highest level not just on all challanges related to tunnel...
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Scanning Electron Microscope (tungsten cathode) with Back Scattered Electrons-, Secundary Electrons- und EDX-detector for manual...
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✏Englisch The research@ZaB enables research at highest level not just on all challanges related to...
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The research@ZaB enables research at highest level not just on all challanges related to tunnel...
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In waste management, sensor-based sorting systems are used for the sorting and analysis of waste...
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The research@ZaB enables research at highest level not just on all challanges related to tunnel...
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The research@ZaB enables research at highest level not just on all challanges related to tunnel...
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The High Pressure, High Temperature (HPHT) curing chambers Model 1910 is specifically designed to cure...
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The new installed scanning electron microscope (SEM) JEOL IT-300 LV at the Institute of Nonferrous...
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Production of alloys using arc melting under protective atmosphere
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Es handelt sich um einen MEMS-basierten Nanoindenter für den Einsatz in einem in-situ REM, ausgestattet...
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Das Nu Plasma HR mit der Seriennummer NP048 ist ein Multikollektor induktiv gekoppeltes Plasma Massenspektrometer...
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Diese Ionendünnungsanlage (Precision Ion Polishing System) wird in der Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie angewandt. Geräte...
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Induktionsofen für Metallschmelzen inkl. Schleuderguss max. Schmelzgewicht bis 60g oder 450g max. Temperatur > 1.600°C
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Die Forschungsinfrastruktur ist ein Laser basiertes Messgerät, mit dem der Elementgehalt und/oder die Isotopenzusammensetzung von...
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Mit diesem Gerät können Oberflächen und einzelne Partikel auf ihre chemische Zusammensetzung untersucht werden. Hierbei...
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ICP-CRC-MS, Inductively coupled plasma collision/reaction cell mass spectrometer (PerkinElmer, USA) The PerkinElmer NexION 2000B is...
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Das Ramanmikroskop erlaubt die chemische Analyse von organischen und anorganischen Substanzen. Das Gerät ist als...
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Messgerät für die Untersuchung von Elementspuren in wässrigen Lösungen und Festproben in Kombination mit einem...
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Ionenmikroskopsäule als Zusatz zum Zeiss AURIGA Rasterelektronenmikroskop, kann zur lokalen Materialbearbeitung mittels fokussierter Ga Ionen...
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Die Anlage dient zur instrumentierten Charakterisierung der Schlageigenschaften von Kunststoffen. Es können Schlagzug, -biege, und...
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Das Mikroskop dient zur digitalen Auf- und Durchlicht-Untersuchung von Dünnschliffen und Anschliffen, Körnerpräparaten, Mineralen und...
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Rasterelektronenmikroskop zur Aufnahme von hochauflösenden Bildern, chemischen Analyse und Phasenanalyse
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The Nu Sapphire is a novel type of multi-collector ICP mass spectrometer with a double...
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EOSINT M280 Laser-Sinter-System zum Herstellen von Metallprodukten
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Optisches Gerät zur Strukturierung von Photolacken
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Gerät zur Messung der Magnetisierung von Gesteins- und Bodenproben
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Röntgenkleinwinkelstreueinrichtung zur Untersuchung von Strukturen im Bereich von 1 bis 100 nm
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Messgerät für die Untersuchung von Elementkonzentrationen in festen Proben.
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Röntgendiffraktometer
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Qualitativ und quantitative Röntgen-Phasenanalytik von pulverförmigen, technisch-keramischen, mineralogischen und geologischen Proben.
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Die Anlage dient zur mechanischen Charakterisierung von Bauteilen und Subkomponenten in einem Prüfkraftbereich bis 1000...
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Die Anlage dient zur mechanischen Charakterisierung von Werkstoffen in einem Prüfkraftbereich bis 100 kN mit...
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Die Anlage dient zur mechanischen Charakterisierung von Werkstoffen in einem Prüfkraftbereich bis 15 kN mit...
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Die Anlage dient zur mechanischen Charakterisierung von Werkstoffen in einem Prüfkraftbereich bis 15 kN mit...
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Serienschaltung von zwei Packungskolonnen DN450 und DN600 zur Charakterisierung von Kolonneneinbauten und für Absorptions-Desorptionsversuche
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Beim Top Blown Rotary Converter (kurz TBRC) handelt es sich um einen mit Erdgas beheizten...
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Die Anlage dient zur mechanischen Charakterisierung von Werkstoffen in einem Prüfkraftbereich bis 250 kN mit...
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Gerät zur Analyse von Oberflächen
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Die Anlage dient zur mechanischen Charakterisierung von Werkstoffen in einem Prüfkraftbereich bis 250 kN und...
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Zur Charakterisierung von Materialien mit nahezu atomarer Auflösung eignet sich insbesondere die Atomsondentomographie. Für derartige...
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Abhängig von der gewählten Kameraeinheit kann das Digital Mikroskop VHX 7000 (Keyence, Belgium) mit unterschiedlichen...
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Die Anlage dient zur dynamisch-mechanischen sowie zur thermo-mechanischen Charakterisierung von Kunststoffen sowohl in Form von...
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Das VistaScope 75 kombiniert Rasterkraftmikroskopie (AFM) mit photoinduzierten Kräften (PiF), um chemische und Oberflächenmessungen von...
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Die Anlage dient zur dynamisch-mechanischen Analyse (DMA) von Werkstoffen unter Zug-, Druck-, Biege- und Scherbeanspruchung...
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Der Prüfstand samt Gasversorgung/–analyse und Impedanzspektrometer dient zur elektrochemischen Charakterisierung von Hochtemperaturbrennstoffzellen und Hochtemperaturelektrolysezellen mit...
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240-kanälige seismische Messapparatur mit flexiblen Messabständen bis zu max. 10 m, oder 25 m bei...